반도체(Semiconductor) 공정의 열 에너지 공급을 담당하는 히터 블록 내 검사가 필요한 부분을 X-RAY 검사 장비를 통해 이미지를 확보한 후, 픽셀 단위의 세그먼테이션(Segmentation) 기술을 활용하여 미리 설정된 편향 정도를 값으로 블록 내 설치된 열선의 편향 정도를 탐색하여 불량 제품을 자동 검출.

* 블록 내 전체X-RAY 이미지에서 검사가 필요한 지점만 탐색하여 편향정도 확인 가능